半導(dǎo)體晶片上的刻痕檢測(cè)-德國(guó)西克傳感器
解鎖半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)關(guān)鍵：精準(zhǔn)刻痕檢測(cè)，引領(lǐng)行業(yè)新高度
在半導(dǎo)體晶片的生產(chǎn)領(lǐng)域，精準(zhǔn)加工是核心競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵所在。稍有偏差，便可能導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量下降，成本大幅增加。你是否正在為半導(dǎo)體晶片加工過(guò)程中的刻痕檢測(cè)與對(duì)準(zhǔn)問(wèn)題而煩惱？
SICK 為你帶來(lái)革命性的解決方案！探索前沿技術(shù)。其 Inspector 2D 視覺(jué)傳感器，就像晶片加工的 “智慧之眼”，能精準(zhǔn)識(shí)別半導(dǎo)體晶片的刻痕位置，為晶片的正確對(duì)準(zhǔn)提供堅(jiān)實(shí)保障，有效提升生產(chǎn)精度，讓產(chǎn)品質(zhì)量更上一層樓。
而且，該檢測(cè)系統(tǒng)配備的散射器部件堪稱(chēng)一大亮點(diǎn)，它能巧妙消隱晶片反射干擾，避免因反射問(wèn)題導(dǎo)致的檢測(cè)誤差，確保檢測(cè)結(jié)果穩(wěn)定可靠。不僅如此，結(jié)合質(zhì)量管理系統(tǒng) Label Checker，還能輕松采集晶片上所附的條碼，以及進(jìn)行光學(xué)符號(hào)識(shí)別（OCR）文本工作，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)流程的全面質(zhì)量管控，從源頭把控產(chǎn)品質(zhì)量，降低次品率。
無(wú)論你是半導(dǎo)體生產(chǎn)企業(yè)的技術(shù)負(fù)責(zé)人，還是致力于提升生產(chǎn)效率的行業(yè)從業(yè)者，這個(gè)鏈接都值得你深入探索。點(diǎn)擊它，開(kāi)啟半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)的精準(zhǔn)時(shí)代，助力企業(yè)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展！
在加工半導(dǎo)體晶片時(shí)，準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)晶片至關(guān)重要。Inspector 2D 視覺(jué)傳感器可準(zhǔn)確識(shí)別晶片的刻痕位置，確保正確對(duì)準(zhǔn)。同時(shí)，散射器部件可消隱晶片反射干擾。另外，使用質(zhì)量管理系統(tǒng) Label Checker 還可以采集晶片上所附的條碼，以及光學(xué)符號(hào)識(shí)別 (OCR) 文本。
以下產(chǎn)品系列可以使用
Inspector系列
VSPI-2F111
VSPI-2F121
VSPI-4F2111
VSPI-4F2311
VSPl-4F2411
VSPP-5F2113
VSPP-5F2413
VSPP-5F2134
VSPM-6B2113
VSPM-6B2413
VSPM-6F2113
VSPM-6F2113S19
VSPM-6F2313
VSPM-6F2313S20
VSPM-6B2413 Universal Robots Kit
